ASTM F523-2002 抛光硅片表面的无辅助设备目视检验的标准实施规程
时间:2024-05-19 16:25:08 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9098
【英文标准名称】:StandardPracticeforUnaidedVisualInspectionofPolishedSiliconWaferSurfaces
【原文标准名称】:抛光硅片表面的无辅助设备目视检验的标准实施规程
【标准号】:ASTMF523-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:玻璃的;外观检查(试验);硅;垫圈;试验;电子工程
【英文主题词】:collimatedlight;defects;high-intensitylight;particle;polished;silicon;visualinspection
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thispracticecoversaninspectionprocedurefordeterminingthesurfacequalityofsiliconwafersthathavebeenpolishedononeside.1.2Thispracticeisintendedasalar
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:StandardSpecificationforBearing,Roller,Needle:Assembly(ThickOuterRace)
【原文标准名称】:滚柱轴承和滚针轴承的标准规范:装配(厚外座圈)
【标准号】:ASTMF2430-2004
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J11
【国际标准分类号】:21_100_20
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 机械制图 图样画法 剖视图和断面图 |
英文名称: | Mechnical drawings-General principles of presentation-Sections |
中标分类: |
机械 >>
机械综合 >>
基础标准与通用方法 |
ICS分类: |
综合、术语学、标准化、文献 >>
技术制图 >>
机械工程制图
|
替代情况: | GB/T 4458.1-1984 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
发布日期: | 2002-09-06 |
实施日期: | 2003-04-01 |
首发日期: | 1984-07-11 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
提出单位: | 全国技术产品文件标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国技术产品文件标准化技术委员会 |
起草单位: | 机械科学研究院、常州技术师范学院、西安科技学院、天津市检测技术研究所 |
起草人: | 王槐德、强毅、杨东拜、周京淮、李勇、刘光平 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2003-04-01 |
页数: | 20页 |
书号: | 155066.1-19261 |
适用范围
本部分规定了剖视图和断面图表示法。本标准适用于在机械制图中用正投影法(见GB/T14692)绘制的技术图样。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
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所属分类: 机械 机械综合 基础标准与通用方法 综合 术语学 标准化 文献 技术制图 机械工程制图